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梅特勒XP微量天平的详细介绍

梅特勒XP微量天平性能特点

●采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●天平校验功能（BalanceCheck），自动提示用户使用外置砝码校正/校准天平，确保称量结果始终准确
●GWPExcellence^TM一体化安全功能，确保天平始终正确工作
●优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
●完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
●丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、差重称量




最小称量值（Minweigh）功能：可设置多达3个符合不同质量法规（GMP/GLP/USP）的最小称量值，满足相关质量法规要求，获得无懈可击的称量帮助。

梅特勒XP微量天平技术参数

型号	最大称量值 [g]	可读性 [mg]	重复性（sd） [mg]	线性误差 [mg]	典型稳定时间 [s]	秤盘尺寸（W×D） [mm]
XP26	22	0.001	0.0025	0.006	3.5	40×40
XP26DR	5.1/22	0.002/0.01	0.002/0.008	0.01	3.5/2.5	40×40
XP56	52	0.001	0.006	0.02	3.5	40×40
XP56DR	11/52	0.002/0.01	0.002/0.014	0.03	3.5/2.5	40×40

DR=变量程；sd=标准偏差