梅特勒XS微量天平的详细介绍
梅特勒XS微量天平技术参数
型号 |
最大称量值[g] |
可读性[mg] |
重复性(sd)[mg] |
线性误差[mg] |
典型稳定时间[s] |
秤盘尺寸[mm] |
XS3DU |
0.8/3.1 |
0.001/0.01 |
0.0008/0.006 |
0.01 |
6 |
Ø27 |
DU=双量程;sd=标准偏差
梅特勒XS微量天平性能特点
●采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
●丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
●GWPExcellence
TM一体化安全功能,确保天平始终正确工作