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梅特勒XS系列分析天平的详细介绍

梅特勒XS系列分析天平性能特点
●采用分离的称量单元和显示控制单元，避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
●完全可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计，实现天平的快速清洁
●丰富的内置称量应用程序：基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
●GWPExcellence^TM一体化安全功能，确保天平始终正确工作

触摸屏（TouchScreen）：背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂，帮助您有效节省操作时间。

网格秤盘（SmartGird）：有效降低称量室中气流对称量的影响，从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错，样品会直接散落在网格秤盘（SmartGird）下的金属底盘上，因而不会影响称量结果，且不浪费您的样品。

梅特勒XS系列分析天平技术参数

型号	最大称量值 [g]	可读性 [mg]	重复性（sd） [mg]	线性误差 [mg]	典型稳定时间 [s]	秤盘尺寸 （W×D）[mm]
XS105DU	41/120	0.01/0.1	0.02/0.1	0.2	4/1.5	78×73
XS205DU	81/220	0.01/0.1	0.02/0.1	0.2	4/1.5	78×73
XS64	61	0.1	0.1	0.2	1.5	78×73
XS104	120	0.1	0.1	0.2	1.5	78×73
XS204	220	0.1	0.1	0.2	1.5	78×73
XS204DR	81/220	0.1/1	0.1/0.7	0.5	3.5/1.5	78×73

DR=变量程；DU=双量程；sd=标准偏差